原位納米粒度儀對于樣品的要求有哪些
更新時間：2020-11-17 點擊次數(shù)：1398
原位納米粒度儀是基于光纖動態(tài)光散射（DLS）技術的納米級懸浮和膠體特性的*表征儀器。監(jiān)測納米顆粒合成，團聚或懸浮體系穩(wěn)定性研究，幫助您實時分析樣品動力學。*的“時間切片” 功能允許VASCO KinTM 用戶對測試后的數(shù)據(jù)進行任意時間段內的粒徑分析。用戶可以獲得所選時間尺度的相應的相關圖和粒度分布。 穩(wěn)頻激光光源，雪崩光電二極管（APD）探測器；可直接測量亞納米樣品（如蛋白質），無需稀釋，測量精度高。
原位納米粒度儀樣品要求：
1)粉末藥品，確保在水溶液中有良好的分散性，20毫克以上，只能測水溶劑中性的
2)液體樣品，只能以水為溶劑
3)測試zeta樣品，選擇水為分散介質
4)測定樣品在不同pH值條件下的粒徑和電位，請自行調好pH值
5)有毒易揮發(fā)樣品請?zhí)崆案嬷?/div>
6)樣品測試完畢要回收，請?zhí)崆案嬷?/div>
原位納米粒度儀主要特點：
﹡采用新的動態(tài)光散射技術，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關光譜法
﹡異相多譜勒頻移技術，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級，提高分析結果的可靠性。
﹡可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度。
﹡超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
﹡快速傅利葉變換算法，迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時間。
﹡膜電極設計，避免產(chǎn)生熱效應，能準確測量顆粒電泳速度。
﹡消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。
原位納米粒度儀是一臺高性能雙角度顆粒粒度及分子大小分析儀，采用動態(tài)光散射法，結合“NIBS”光學器件，可增強對聚集體的檢測，還可測量小尺寸或稀釋樣品，以及極低濃度或高濃度樣品。 ZSE還包含了電泳光散射法表征顆粒、分子的zeta電位分析儀，以及靜態(tài)光散射法表征分子量。
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